VLSI 测试方法学和可测性设计

作　者：雷绍充

ISBN：7121003791

出版社：电子工业出版社

开本装帧：简装 / 16开 / 286页

版　次：2005年1月第1版　

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更新时间：2007-5-12 11:03:46

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◆ [VLSI 测试方法学和可测性设计] 图书简介

本书系统介绍大规模集成电路的测试方法学和可测试性设计，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路（包括电路级、芯片级和系统级）的设计、制造、测试和应用人员之间建立起一个相互交流的平台。
本书主要内容为电路测试和分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测性设计，扫描和边界扫描理论，IDDQ测试，随机和伪随机的测试原理、各种测试生成电路结构及其生成序列之间的关系，与M序列相关的其它测试生成方法，内建自测试原理，各种数据压缩结构和压缩关系之间的关系，专用电路Memory和SoC等的可测性设计方法。

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